品牌 | SICK/德国西克 | 应用领域 | 能源,电子,印刷包装,航天,汽车 |
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SICK超声波传感器UM30-213118
通过运行时间测量实现高测量准确度,不受物体颜色(包括玻璃、液体和薄膜)的影响进行物体识别
扫描范围可达 8,000 mm
显示屏可以实现快速且灵活的传感器调整
抗灰尘、抗污和抗雾能力强
同样提供组合式的模拟和信号输出端
同步和复合运行模式
灵敏度可调节
三种操作模式:距离对象 (DtO)、窗口 (Wnd) 或传感器和背景之间的对象 (ObSB)
优势:
紧凑的结构尺寸使其易于集成至设备
通过多种参数设置方法能灵活匹配至应用要求
通过使用同步和复合模式排除相互影响提供的测量结果
可通过传感器同步进行低成本的区域监控
通过显示屏的离线传感器参数设置能够进行预配置并节省设备调试时间
内置温度补偿,确保达到*的测量准确度,以获得最佳效果
ObSB 模式能够识别传感器和示教背景之间的所有物体
SICK超声波传感器UM30-213118
1016311 WL12G-W530 REFLEXIONS-LICHTSCH.
1016344 WT4-2P330M14 REFLEXIONS-LICHTT.
1016345 WS/WE4-2P.M01 EINWEG-LICHTScANKE
1016353 TGSS15-111111 TESTABLE GRID SYSTEM
1016354 TGSE15-111111 TESTABLE GRID SYSTEM
1016355 TGSS15-121111 TESTABLE GRID SYSTEM
1016356 TGSE15-121111 TESTABLE GRID SYSTEM
1016359 WT27L-2S830A REFLEXIONS-LICHTT.
1016360 WT27L-2S830A01 REFLEXIONS-LICHTT.
1016361 DS60-P21111 DISTANZ SENSOR
1016366 MST203-1000 MEASUREM.-SOFTW.-TOOL
1016428 M20S-03140A120 MULTIPLE BEAM SYSTEM
1016429 M20E-03140A120 MULTIPLE BEAM SYSTEM
1016440 M20S-081A3A120 MULTIPLE BEAM SYSTEM
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